提 供 商：
復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司資料大小：
圖片類型：
資料類型：
PDF下載次數(shù)：
161點(diǎn)擊下載：
文件下載詳細(xì)介紹：
掃描電鏡（SEM）是一種用途廣泛的科學(xué)儀器，它可以根據(jù)用戶的需求提供樣品不同類型的信息。在這里我們將闡述在掃描電鏡（SEM）中產(chǎn)生的不同類型的電子，它們是如何被檢測出來的，以及它們可以提供的信息等。
電子顯微鏡是通過電子束來成像的。在圖1中，您可以看到電子與物質(zhì)相互作用所產(chǎn)生的各種信號，所有這些不同類型的信號攜帶著關(guān)于樣品的不同的有用信息，由電子顯微鏡的操作人員根據(jù)需要選擇接收的信號。
例如在透射電鏡（TEM）中，正如它的名字所示，檢測到的信號是透過樣品的電子，會提供樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息。在掃描電鏡（SEM）下，通常需要檢測兩種類型的信號：背散射電子（BSE）和二次電子（SE）。
圖1：電子與物質(zhì)相互作用區(qū)域，產(chǎn)生不同類型的信號
傳真：
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
