臺(tái)式掃描電鏡是一種功能強(qiáng)大的微觀結(jié)構(gòu)觀察裝置
更新時(shí)間：2023-10-11 點(diǎn)擊量：1005
臺(tái)式掃描電鏡是一種功能強(qiáng)大的微觀結(jié)構(gòu)觀察裝置。相對(duì)于傳統(tǒng)的臺(tái)式顯微鏡或光學(xué)顯微鏡，DSEM能夠提供更高的分辨率、更清晰的圖像和更全面的信息，進(jìn)而促進(jìn)材料學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的研究和發(fā)展。DSEM的構(gòu)造與傳統(tǒng)掃描電鏡類(lèi)似，包括樣品室、檢測(cè)器、控制系統(tǒng)等部分。不同之處在于DSEM可以安裝在臺(tái)式計(jì)算機(jī)上，并支持操作系統(tǒng)軟件，實(shí)現(xiàn)了高效便捷的微觀結(jié)構(gòu)觀察。DSEM在材料學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。例如，在材料學(xué)領(lǐng)域中，DSEM可以用于金屬、陶瓷、高分子材料等的觀察和分析。在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中，DSEM可以用于細(xì)胞結(jié)構(gòu)及超微結(jié)構(gòu)的研究。在納米技術(shù)領(lǐng)域中，DSEM可以用于納米級(jí)別下的形貌和組成分析。
Phenom ProX飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)同時(shí)具備樣品表面微觀形貌觀測(cè)和表面元素成分點(diǎn)、線、面分析。原飛利浦*科學(xué)家Karel.Mast教授攜手荷蘭飛納，*將電鏡和能譜在生產(chǎn)環(huán)節(jié)集成在一臺(tái)設(shè)備中，后期通過(guò)一個(gè)軟件平臺(tái)控制操作，用戶(hù)只需要熟悉一個(gè)軟件就能同時(shí)操控兩項(xiàng)功能，也變得相對(duì)簡(jiǎn)單快速。
需要注意的是，DSEM是一項(xiàng)高精度的技術(shù)，需要專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行操作。用戶(hù)在使用設(shè)備時(shí)，需要仔細(xì)閱讀設(shè)備的操作說(shuō)明和安全須知，遵循正確的操作程序和操作規(guī)范，確保設(shè)備的安全和準(zhǔn)確性。
