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顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng) 

使用飛納臺(tái)式掃描電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，以快速、 簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析。顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)支持用戶在電鏡操作界面直接收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數(shù)據(jù)。超越光學(xué)顯微鏡分析，自動(dòng)化的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)把可視化分析提高到了一個(gè)新臺(tái)階，這將在粉末設(shè)計(jì)、開發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進(jìn)一步的探索和創(chuàng)新。

柱狀圖、散點(diǎn)圖和生成的圖像可以選定格式導(dǎo)出，并生成報(bào)告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數(shù)量分布或體積分布。散點(diǎn)圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來，以揭示相關(guān)性和趨勢。飛納電鏡的顆粒系統(tǒng)支持用戶獲得他們需要的數(shù)據(jù)。因此，顆粒系統(tǒng)加快了顆粒分析速度，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

1）聯(lián)機(jī)或脫機(jī)分析；
2）收集顆粒的屬性數(shù)據(jù)，例如當(dāng)量直徑、圓度、長軸短軸比、凸包度等；
3）借助超大視野拼圖軟件，可獲得大量顆粒的分析數(shù)據(jù)；

4）先進(jìn)的識(shí)別算法，用戶自由選擇默認(rèn)設(shè)置或高級(jí)設(shè)置。